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Labthink兰光CHY-C2薄膜厚度测量仪符合GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645等多种测试标准，适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。Labthink兰光拥有先进的检测技术与实验室，致力于为全球范围医药、食品、日化、包装、印刷、胶粘剂、汽车、石化、环境、生物、新能源、建筑、航空及电子领域客户提供、全面的品质控制解决方案。
CHY-C2薄膜厚度测量仪主要技术指标：
测量范围：0～2mm（常规）
0～6mm；12mm（可选）
分 辨 率：0.1μm
测量速度：10次/min（可调）
测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）
接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）
注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
电 源：AC 220V 50Hz
外形尺寸：300 mm (L)×275 mm (B)×300 mm (H)
净 重：33kg
以上CHY-C2薄膜厚度测量仪信息由Labthink济南兰光发布，欢迎致电0531-85068566了解详细信息！
